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Technologieanalyse Quanteninformationstechniken
Technologiefrüherkennung
Autor(en): Fröhlingsdorf, J.
Informationen
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Informationen
Verlag
VDI Technologiezentrum GmbH im Auftrag des
BMBF
ISSN
1436-5928
Datum
Juli 1999
Themen
Nanotechnologie
Studien & Analysen
Früherkennung
Tags
Nanowerkzeuge SXM
Quantentechnologien
Rastersondentechniken
Technologiefrüherkennung
Technologieanalyse
Zukünftige Technologien (
ZTC
-Reihe)
Download
Technologieanalyse Quanteninformationstechniken
PDF-Datei (nicht barrierefrei), 130 Seiten, Größe: 1.41 MB
